一、六西格瑪簡(jiǎn)介

六西格瑪誕生于20世紀(jì)80年代的美國(guó)摩托羅拉公司，當(dāng)時(shí)日本產(chǎn)品憑借著高質(zhì)量、低成本橫掃全球，面對(duì)這種威脅，摩托羅拉逐步在公司內(nèi)部形成了一套系統(tǒng)化的質(zhì)量改進(jìn)方案——六西格E六西格瑪所帶來的收益累計(jì)高達(dá)140億美元。1988年榮膺極負(fù)盛名的第一屆“波多里奇美國(guó)國(guó)家質(zhì)量獎(jiǎng)”。聯(lián)合信號(hào)公司的拉里博西迪在1992年將六西格瑪引入聯(lián)合信號(hào)公司，并將大量的關(guān)于組織變革和領(lǐng)導(dǎo)力提升，變革企業(yè)文化的內(nèi)容補(bǔ)充到六西格瑪方法中，改變了企業(yè)的經(jīng)營(yíng)和運(yùn)作方式，連續(xù)31個(gè)季度每股利潤(rùn)13%的增長(zhǎng)，股價(jià)漲了8倍。通用電氣公司的首席執(zhí)行官杰克?韋爾奇，開始以其雄厚的財(cái)力不斷投入巨資在全公司范圍內(nèi)推廣六西格瑪，并將它作為公司戰(zhàn)略的一部分來實(shí)施。結(jié)果使通用電氣的股票市值增長(zhǎng)到了4500億美元，增長(zhǎng)了30多倍，公司排名從世界第十位提升到了第二位。為此，GE連續(xù)兩年獲得了《財(cái)富雜志》評(píng)選的全美及全球最佳公司。

同樣，六西格瑪管理在聯(lián)信、ABB,東芝、三星等企業(yè)組織中也獲得巨大成功，甚至一些服務(wù)領(lǐng)域的組織如花旗銀行、迪斯尼、希爾頓酒店等，也通過引入六西格瑪管理，給顧客和股東帶來極大的收益。

六西格瑪隨著外資的引進(jìn)也已在中國(guó)這塊文明之地悄然播種，我國(guó)于2001年12月11日正式加入世界貿(mào)易組織(WTO)，六西格瑪水平已成為衡量一個(gè)國(guó)家綜合實(shí)力與競(jìng)爭(zhēng)力的最有效的指標(biāo)，優(yōu)秀的中國(guó)企業(yè)家看到了六西格瑪?shù)木薮罅α?，開始嘗試導(dǎo)入六西格瑪。為了進(jìn)一步提高國(guó)內(nèi)產(chǎn)品與服務(wù)的質(zhì)量，跟上國(guó)際步伐，國(guó)內(nèi)企業(yè)推行六西格瑪管理成為必然趨勢(shì)。

二、項(xiàng)目定義

磁碟表面損傷引起的失效問題主要是因?yàn)?，與磁碟局部表面接觸的組件接觸面或點(diǎn)有細(xì)小的硬質(zhì)顆?；蛲黄?，以及沒有處理和消除的細(xì)小毛刺。這些顆?；蛲黄鹪诖诺男D(zhuǎn)過程中就會(huì)在磁碟表面形成不可修復(fù)的損傷而導(dǎo)致磁碟的單面或雙面的報(bào)廢。

這些損傷一方面影響磁盤的格式化和容量的計(jì)算，也就是最終可能這片磁碟達(dá)不到設(shè)計(jì)的容量，只能降級(jí)做成低容量的硬盤。

嚴(yán)重的必須更換磁碟，損傷的磁碟直接報(bào)廢，不可修復(fù)或回用。尤其是在多碟硬盤中這種缺陷更為明顯，多碟的硬盤畢竟多了磁碟，磁頭，還多了墊片。此項(xiàng)目需重點(diǎn)找出影響這個(gè)磁碟表面損傷引起的失效問題的關(guān)鍵因素并加以改進(jìn)和消除，是缺陷率能夠達(dá)到項(xiàng)目要求的目標(biāo)。以往最低的缺陷率為1.4%，基線是2.4%，我們的目標(biāo)是磁碟表面損傷引起的缺陷率降到1.7%。

三、項(xiàng)目測(cè)量

測(cè)量(Measure)階段既是定義階段(Define)的后續(xù)活動(dòng)，也是連接分析階段(Analyze)的橋梁，是事實(shí)和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)管理的具體體現(xiàn)，是DMAIC過程的第二階段。任何過程的輸入與輸出關(guān)系均可表達(dá)為:Y=f(x)，式中，Y為過程的輸出結(jié)果；對(duì)于任何給定的產(chǎn)品或程序，都存在輸入、過程和輸出三個(gè)環(huán)節(jié)。項(xiàng)目Y是我們測(cè)定客戶CTQ的方法。x為影響Y的過程輸入。正是那些關(guān)鍵的輸入變量x決定了輸出變量Y。六西格瑪項(xiàng)目的實(shí)施過程，就是不斷地揭示兩者之間關(guān)系的過程。測(cè)量階段的工作重點(diǎn)是在界定階段工作的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步明Y的測(cè)量，并通過收集x和Y的測(cè)量數(shù)，定量化地描述Y，認(rèn)識(shí)Y的波動(dòng)規(guī)律，揭示過程改進(jìn)的機(jī)會(huì)，識(shí)別可能的途徑和改進(jìn)方向來實(shí)現(xiàn)改善目標(biāo)。

1、硬盤測(cè)試

硬盤測(cè)試過程中會(huì)有專門針對(duì)磁碟表面損傷的信號(hào)測(cè)試，在經(jīng)過項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)的會(huì)議討論，針對(duì)硬盤生產(chǎn)過程的具體流程進(jìn)行分析，運(yùn)用魚骨圖，因果效應(yīng)圖和失效分析工具，將大家認(rèn)為對(duì)可能形成損傷問題的原因全部列了出來，并對(duì)這些因素進(jìn)行了權(quán)重打分，初步選出幾條對(duì)表面質(zhì)量有明顯影響的因素。

為了使尋找因素更準(zhǔn)確，又對(duì)這些因素進(jìn)行了失效模式分析。通過對(duì)影響因素進(jìn)行權(quán)重打分，根據(jù)發(fā)生可能及幾率，選出了磁頭來料問題，流水線影響，馬達(dá)原料問題，墊片來料問題，墊片回收循環(huán)使用等五項(xiàng)影響因素，將這五個(gè)因素作為下步項(xiàng)目研究的重點(diǎn)。

2、測(cè)量系統(tǒng)分析

選定28個(gè)硬盤做好標(biāo)記，其中12個(gè)來源于其他的失效，13個(gè)是成品，5個(gè)是首次測(cè)試有問題的，但重新測(cè)試通過的硬盤來對(duì)這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行attributeGageR&R分析。除由于生產(chǎn)線硬盤流量大，跟蹤不到位2個(gè)硬盤沒有及時(shí)得到結(jié)果外，其他的硬盤測(cè)試結(jié)果得出，把通過和失效的結(jié)果輸入Minitab顯示測(cè)量系統(tǒng)有效性大于80%，故測(cè)量系統(tǒng)有效。

四、根本原因分析及改進(jìn)

項(xiàng)目小組依據(jù)前面FMEA的結(jié)果，對(duì)得到的幾個(gè)關(guān)鍵因子進(jìn)行了假設(shè)檢驗(yàn)（a=0.05；=0.01），證實(shí)只有磁頭堆的來料問題，流水線影響，馬達(dá)原料問題都不是關(guān)鍵因素。而墊片的來料問題和墊片循環(huán)使用是針對(duì)磁碟損傷的關(guān)鍵原因。

1、針對(duì)墊片全新來料的假設(shè)檢驗(yàn)

選取DUFU和Global兩家供應(yīng)商，DUFU檢取的樣本數(shù)是2382個(gè)，其中有磁碟損傷相關(guān)的失效數(shù)84個(gè)，Global檢測(cè)數(shù)是2744個(gè)，碟損傷相關(guān)的失效數(shù)20個(gè)。假設(shè)檢驗(yàn)顯示P-Value=0<0.05，證明墊片是關(guān)鍵原因，必須馬上暫停領(lǐng)用DUFU的全新來料并要求供應(yīng)商提供改進(jìn)措施。

2、針對(duì)回用墊片有做的實(shí)驗(yàn)

設(shè)3個(gè)樣本組，組一選取Global全新墊片，樣本數(shù)1198個(gè)，最后測(cè)試出來有損傷異常21片；組二選取100%回用墊片970個(gè)，測(cè)試結(jié)果是損傷相關(guān)的失效數(shù)28個(gè)；組三選取的是在10倍顯微鏡100%檢查通過的回用墊片500個(gè)，測(cè)試結(jié)果是沒有相關(guān)的失效。假設(shè)檢驗(yàn)結(jié)果是P-Value<0.05三組之間存在明顯差異，回用墊片是一個(gè)關(guān)鍵因素。要想減少這些相關(guān)的失效必須馬上針對(duì)回用墊片提供改進(jìn)措施。下回用墊片表面損傷顯微鏡下反而比全新的來料輕微。

3、針對(duì)關(guān)鍵原因的改進(jìn)

①倉(cāng)庫(kù)中的全新來料，要求供應(yīng)商拉回進(jìn)行刪選，剔除毛刺的或損傷的墊片。10倍放大鏡后30倍放大鏡確認(rèn)；對(duì)于沒有出貨的墊片按新標(biāo)準(zhǔn)出貨:10倍放大鏡后30倍放大鏡確認(rèn)。

②更改圖紙，將墊片邊緣的倒角由45度改為圓弧倒角，并通知到供應(yīng)商確認(rèn)圖紙更改。

③對(duì)于工廠內(nèi)部己經(jīng)領(lǐng)用的墊片，對(duì)于出現(xiàn)損傷失效相關(guān)的問題產(chǎn)品，拆開后墊片報(bào)廢，不再回用。生產(chǎn)線上其他的墊片回用必須按新的標(biāo)準(zhǔn)來檢查確認(rèn)。

這些改進(jìn)的措施是要落實(shí)到實(shí)際生產(chǎn)中并經(jīng)過長(zhǎng)達(dá)幾周的試驗(yàn)和跟蹤后，對(duì)改進(jìn)結(jié)果進(jìn)行了分析，我們才能確認(rèn)措施有效。這種改進(jìn)分析的結(jié)論不僅需要大量數(shù)據(jù)的支持，而且數(shù)據(jù)需要經(jīng)過整理，并需要排除異常數(shù)據(jù)。幸運(yùn)的是公司就是做電子產(chǎn)品的，對(duì)每個(gè)工序甚至工位都有針對(duì)生產(chǎn)數(shù)據(jù)的收集，大大方便項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)。

五、針對(duì)關(guān)鍵因素控制

1、更新FMEA在項(xiàng)目完成后，要對(duì)FMEA更新相關(guān)的條目。

2、對(duì)新標(biāo)準(zhǔn)形成文檔在對(duì)生產(chǎn)線的產(chǎn)品FMEA更新的同時(shí)，要對(duì)生產(chǎn)線的控制計(jì)劃進(jìn)行的更改。

六、效益評(píng)價(jià)

磁碟的表面損傷將會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的合格率和成品率下降，是產(chǎn)品生產(chǎn)的一個(gè)重要指標(biāo)。天行健管理顧問將磁碟的表面損傷缺陷率定為作為一個(gè)六西格瑪黑帶項(xiàng)目，運(yùn)用六西格瑪DMAIC流程，通過對(duì)磁碟表面質(zhì)量問題的界定、測(cè)量、針對(duì)測(cè)量結(jié)果對(duì)根本性原因進(jìn)行分析，然后，從損傷的具體位置形態(tài)入手進(jìn)行分析研究，將導(dǎo)致?lián)p傷的潛在關(guān)鍵因素逐一進(jìn)行假設(shè)檢驗(yàn)，確認(rèn)了墊片DUFU全新物料和生產(chǎn)線回用墊片兩個(gè)關(guān)鍵因素，在實(shí)際生產(chǎn)過程中，通過對(duì)這兩個(gè)關(guān)鍵原因進(jìn)行控制，收到了良好的效果，損傷缺陷率顯著下降，達(dá)到了項(xiàng)目的目標(biāo)。