問(wèn)題:計(jì)數(shù)測(cè)試需要大量樣本。
對(duì)策:
使用測(cè)量特性值進(jìn)行過(guò)程控制;
使用更有效的控制圖;
結(jié)合自動(dòng)檢驗(yàn)使用控制圖;
缺陷的全面控制;
使用接近零缺陷的控制圖。
有些類(lèi)型的缺陷可以自動(dòng)檢測(cè)出來(lái),檢測(cè)速度快,成本低,但此時(shí)還是需要控制圖進(jìn)行控制。如果我們放棄了控制圖,我們實(shí)際上將在回溯測(cè)試中回到傳統(tǒng)的質(zhì)量控制階段。
一個(gè)過(guò)程可能有許多類(lèi)型的缺陷。當(dāng)質(zhì)量水平接近6σ時(shí),每類(lèi)缺陷出現(xiàn)的幾率很小,但各類(lèi)缺陷的總和可能是一個(gè)很大的數(shù)字。美國(guó)挑戰(zhàn)者號(hào)和哥倫比亞號(hào)航天飛機(jī)的墜毀就是最有力的例子。傳統(tǒng)的控制圖通常用于控制缺陷。在6σ的高質(zhì)量水平下,可以用一個(gè)控制圖來(lái)綜合控制幾個(gè)缺陷。
近零缺陷控制圖是一種不同于常規(guī)控制圖的特殊控制圖,它可以大大減少過(guò)程接近零缺陷時(shí)的抽樣樣本數(shù)。
在6σ的高質(zhì)量水平下,常規(guī)計(jì)數(shù)控制圖需要大樣本才能繪制,而計(jì)量型控制圖的樣本量不受影響,仍然保持在20以內(nèi),甚至只有一個(gè)樣本值的單值范圍控制圖也可以使用。在高質(zhì)量的生產(chǎn)過(guò)程中,過(guò)程的穩(wěn)定性相應(yīng)更高。此時(shí)可以拉長(zhǎng)采樣間隔,樣本量要大一些,最好是5-10個(gè)。
計(jì)量型控制圖適用于任何質(zhì)量水平。如果一個(gè)過(guò)程在穩(wěn)定狀態(tài)下確實(shí)是零缺陷過(guò)程,那么該過(guò)程的測(cè)量值特性也會(huì)有變化。使用計(jì)量型控制圖仍然可以反映進(jìn)程的變化規(guī)律,在進(jìn)程出現(xiàn)異常時(shí),可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題??刂茍D的八個(gè)判別準(zhǔn)則也是適用的,根據(jù)不同的判別準(zhǔn)則可以找到過(guò)程異常的不同原因。在這種情況下,計(jì)數(shù)控制圖就失去了意義。首先,控制極限不能在零缺陷下計(jì)算。其次,缺陷只能說(shuō)明過(guò)程異常,而不能說(shuō)明異常的原因。
計(jì)量型控制圖的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是可以同時(shí)繪制兩個(gè)控制圖,一個(gè)控制過(guò)程中心,另一個(gè)控制過(guò)程變異。因此,在做質(zhì)量控制時(shí),測(cè)量值的質(zhì)量特性是繪制控制圖的首選。